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DIN EN ISO 25178-603:2014 DE
Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 603: Merkmale von berührungslos messenden Geräten (phasenschiebende interferometrische Mikroskopie) (ISO 25178-603:2013); Deutsche Fassung EN ISO 25178-603:2013 (Foreign Standard)
Dieser Teil der ISO 25178 legt die metrologischen Eigenschaften von Messgeräten der phasenschiebenden interferometrischen (PSI ) Mikroskopie zur Messung von Oberflächenprofilen und zur flächenhaften Messung der Oberflächenbeschaffenheit fest.*Dieser Teil der ISO 25178 legt die messtechnischen Eigenschaften von Messgeräten der phasenschiebenden interferometrischen (PSI-) Mikroskopie zur Messung von Oberflächenprofilen und zur flächenhaften Messung der Oberflächenbeschaffenheit fest. Dieser Teil von ISO 25178 ist eine Norm der geometrischen Produktspezifikation und als allgemeine GPS-Norm anzusehen (siehe ISO/TR 14638). Sie beeinflusst das Kettenglied 5 der Normenketten über flächenhafte Oberflächenbeschaffenheit. Der in ISO 14638 gegebene ISO/GPS-Masterplan gibt einen Überblick über das ISO/GPS-System, von dem dieses Dokument ein Bestandteil ist. Die in ISO 8015 gegebenen grundlegenden Regeln von ISO/GPS gelten für dieses Dokument. Falls nichts anderes angegeben, gelten die Default-Entscheidungsregeln nach ISO 14253-1 für Spezifikationen, die in Übereinstimmung mit diesem Dokument festgelegt wurden. Dieses Dokument (EN ISO 25178-603:2013) wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 213 "Dimensional and geometrical product specifications and verification" (Sekretariat: DS, Dänemark) in Zusammenarbeit mit dem Technischen Komitee CEN/TC 290 "Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung" erarbeitet, dessen Sekretariat vom AFNOR (Frankreich) gehalten wird. Das zuständige nationale Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG) im DIN.
Deutsches Institut für Normung [din]